日本MIC兼容超小芯片高精度、數(shù)字電阻檢測器AE-162L D、F、G、J、K級超小尖頭(0201、03015)兼容編帶機 0201、03015尺寸超小型芯片兼容(測量功率0.02W以下/測量端子開路電壓9V以下)
更新日期:2024-03-20 訪問量:1062
日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162E 由于模數(shù)隔離提高了抗噪性,因此穩(wěn)定性高 兼容極小的芯片(低功耗測量) 超高速 0.7msec.(代表值)
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日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162D 適用于 D、F、G、J、K 級、芯片、melph、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機
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日本imt獨立負(fù)載型自動拋光機 Rana-3 Rana-3采用單獨加載方式,可自由設(shè)置1-6個樣品。 由于可以改變支架的轉(zhuǎn)數(shù),所以可以在相同的轉(zhuǎn)數(shù)下對支架和盤進行拋光,并且拋光表面不會傾斜或變成鉛筆狀。 支架和圓盤都可以向前和向后旋轉(zhuǎn)。
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日本imt滾筒式樣品拋光機SP-As1 / As2 用于安裝拋光機 IM-P2 的滾筒式樣品旋轉(zhuǎn)機。 拋光非嵌入樣品時,可將SP-As1連接到拋光機IM-P2上,實現(xiàn)自動拋光。 非常適合長時間低速包裹的樣品。 也可提供與樣品匹配的定制支架。
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日本imt實驗拋光機組合IM-P2+SP-L1 用于安裝拋光機 IM-P2 的樣品旋轉(zhuǎn)機。 拋光嵌入樣品時,將 SP-L1 連接到拋光機 IM-P2 以啟用自動拋光。 由于可以改變磁頭轉(zhuǎn)速,因此可以以相同的轉(zhuǎn)速對支架和光盤進行拋光,防止拋光表面傾斜或變成鉛筆狀,并且可以在不失去平行度的情況下進行研磨。
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日本imt臺式樣品拋光機 IM-P2 IM-P2是一款于手工拋光的拋光設(shè)備。通過改裝樣品旋轉(zhuǎn)機也可以實現(xiàn)自動化。 工作臺高度便于更換圓盤并用手拋光。 搭載了即使在高轉(zhuǎn)速和低速范圍內(nèi)也能產(chǎn)生強大扭矩的電機!
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低價納米粒子生產(chǎn)設(shè)備 制粒設(shè)備
低價納米粒子生產(chǎn)設(shè)備 直流電弧電源300A,濾波器-1 片RP GHP-150與OMT,循環(huán)泵100L /分鐘 皮拉尼真空計(PT-4P),安全閥 水冷電極(與W碼片),納米顆粒熱交換器
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超細粒子/納米粒子制造設(shè)備 超細粒子/納米粒子制造裝置的目的是通過在氫氣(與氬氣混合)或氮氣等氣體氣氛中通過電弧熔化來強制蒸發(fā)材料以制造超細粒子/納米粒子。它被開發(fā)出來。超細顆粒和納米顆粒的目標(biāo)材料范圍很廣,包括各種金屬、合金和陶瓷。
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日本futaku零件噴嘴內(nèi)表面無損測量儀Arasamir 對于醫(yī)療用分配噴嘴,如果用于預(yù)測試的樣品保留在噴嘴內(nèi),則測試值將波動,并且無法進行準(zhǔn)確的樣品分析。 分配噴嘴所需的質(zhì)量是在內(nèi)表面沒有劃痕或不規(guī)則且沒有殘留物附著的噴嘴。
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Clavelle Elephant精細零件無損探傷設(shè)備
日本futaku精細零件無損探傷設(shè)備Clavelle Elephant 由于自動檢查了放置在通用零件托盤上的微小零件的100,大大減輕了區(qū)分目視檢查的負(fù)擔(dān),并提高了檢查工作的效率,并且提高了鑒別精度并使其穩(wěn)定。 它是緊湊型臺式機,是各種小批量零件鑒別檢查的理想選擇。
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日本napson手持式探針的電阻測量儀EC-80P 使用手持式探針的手動無損(渦流法)電阻測量儀
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日本電子技研激光多普勒振動計V100系列 型號名稱V100-LMV100-MSV100-S 測量頻率范圍0.5Hz-300kHz的 速度測量范圍3μm/ s至10 m / s0.05μm/ s至1 m / s0.05μm/ s至0.1 m / s
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日本port AI敲擊聲音檢查器PDC-100A 從麥克風(fēng)捕獲要檢查的錘子的敲擊聲,并使用主體內(nèi)部的機器學(xué)習(xí)功能來確定混凝土結(jié)構(gòu)內(nèi)部是否浮空或剝落。
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日本萊歐泰克眉筆硬度檢測儀RTC-3005D FUDOH レオメーターRTCは食品、化粧品、工業(yè)製品などの研究室や工場、また各地の大學(xué)や官公庁施設(shè)などの様々な分野で使用されている、物性測定器のスタンダードモデルです。 「固さ」「柔らかさ」と言うような感觸や感覚的なものを數(shù)値化することができる、小型で操作性や安定性、耐久性に優(yōu)れた物性測定器です。
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