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日本NCC室內(nèi)灰塵檢查燈ZEUS 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少？這是因為10μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆?！钡漠愇锸艿街亓Φ挠绊懀谥圃飕F(xiàn)場的各處（墻壁、地板、工作臺、產(chǎn)品表面）積聚。
更新日期：2024-03-25 訪問量：774
union組裝電池晶體管焊接電源UDT-A80T 控制速度快，極性切換功能可實現(xiàn)穩(wěn)定的精密焊接，且飛濺少。 適應(yīng)工作： 焊接要求很高的電子零件，例如電池，電池引線板，細線，鍍層，不同厚度的材料，金屬箔，繼電器，鹵素?zé)簦瑪嗦菲?，連接器等。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1035
union電動自行車晶體管焊接電源UDT-A80T 控制速度快，極性切換功能可實現(xiàn)穩(wěn)定的精密焊接，且飛濺少。 適應(yīng)工作： 焊接要求很高的電子零件，例如電池，電池引線板，細線，鍍層，不同厚度的材料，金屬箔，繼電器，鹵素?zé)?，斷路器，連接器等。
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union高壓汽車晶體管焊接電源UDT-A80T 控制速度快，極性切換功能可實現(xiàn)穩(wěn)定的精密焊接，且飛濺少。 適應(yīng)工作： 焊接要求很高的電子零件，例如電池，電池引線板，細線，鍍層，不同厚度的材料，金屬箔，繼電器，鹵素?zé)簦瑪嗦菲?，連接器等。
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seiwaopt硅晶片背面圖案光源檢測SIS-150 光學(xué)測量儀
seiwaopt硅晶片背面圖案光源檢測SIS-150 它非常適合無損檢測，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。
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日本seiwaopt硅晶片內(nèi)部檢查光源SIS-150 光學(xué)測量儀
日本seiwaopt硅晶片內(nèi)部檢查光源SIS-150 它非常適合無損檢測，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1094
日本seiwaopt非破壞性檢查光源SIS-150 光學(xué)測量儀
日本seiwaopt非破壞性檢查光源SIS-150 它非常適合無損檢測，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1055
日本seiwaopt近紅外光纖光源裝置SIS-150 光學(xué)測量儀
日本seiwaopt近紅外光纖光源裝置SIS-150 它非常適合無損檢測，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1063
日本seiwaopt近紅外線照射裝置SIS-150 光學(xué)測量儀
日本seiwaopt近紅外線照射裝置SIS-150 它非常適合無損檢測，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。
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圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 光學(xué)測量儀
圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 過濾器底座規(guī)格 F20 系列過濾器可以從纖維出口插入和移除。 型號：FA-100C-K 型號：FA-150EN-K
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seiwaopt鹵素光纖光源FA-100C/FA-150EN 光學(xué)測量儀
seiwaopt鹵素光纖光源FA-100C/FA-150EN 過濾器底座規(guī)格 F20 系列過濾器可以從纖維出口插入和移除。 型號：FA-100C-K 型號：FA-150EN-K
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seiwaopt圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 光學(xué)測量儀
seiwaopt圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 過濾器底座規(guī)格 F20 系列過濾器可以從纖維出口插入和移除。 型號：FA-100C-K 型號：FA-150EN-K
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